• 二次离子质谱仪QUAD4550
    二次离子质谱仪QUAD4550
    Cameca QUAD4550
    **深度分辨率和**通量随着器件尺寸不断缩小，当今半导体的注入物剖面和层厚度通常在1-10纳米的范围内。SIMS 4550通过提供碰撞能量可从5keV降**低于150eV的氧和铯**密度**次离子束进行优化，充分满足上述应用**域的需求。灵活性CAMECA的SIMS 4550是**款动态SIMS工具，可在溅射条件（碰撞角度、能量、物种）方面提供全面的灵活性。在样品溅射过程中，通过电荷补偿（电子枪、激详细
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    2021-01-11 二次离子质谱
  • 二次离子质谱IMS 7F-GEO
    二次离子质谱IMS 7F-GEO
    Cameca IMS 7F-GEO
    实现**同位素比值再现性的独特检测系统IMS 7f-GEO在我们业经验证的IMS 7f仪器的基础上开发而成，配备新型、独特的检测系统，并结合了双法拉第杯探测器系统和电子倍增器。这种配置不仅缩短了采集时间，并且以拟双接收模式运行分析，确保了稳定同位素比值测量的亚千分比精密度。双法拉第杯系统与快速质量峰值切换系统（在**质量分辨率下可达到0.3秒）相结合，在精度和详细
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    2021-01-11 二次离子质谱
  • 二次离子质谱仪SIMS 7F-AUTO
    二次离子质谱仪SIMS 7F-AUTO
    Cameca SIMS 7F-AUTO
    用于解决多种分析问题的关键分析功能IMS 7f-Auto提供了具有**深度分辨率和**动态范围的深度剖析功能。**透射质谱仪与两种反应性**密度离子源（O2+和Cs+）相结合，从而提供**溅射速率和极低的检出限。独特的光学设计可实现直接离子显微镜和扫描探针成像。提**自动化和作业效率IMS 7f-Auto配有重新设计的同轴**次离子枪筒，可以更轻松、更快速地进行**次离子束调谐，并优详细
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    2021-01-11 二次离子质谱
  • SIMS Workstation二次离子质谱仪
    SIMS Workstation二次离子质谱仪
    Hiden SIMS Workstation
    **参数：质量数范围：300，510或1000amu分辨率：5%的谷，两个相连的等**峰。检测器：离子计数检测器，正、负离子检测检测限：1:10E7质量过滤器：三级过滤四极杆（9mm杆）主离子枪： A，氧离子或其它气体，能量到5KeV B，Ga离子枪，能量25KeV（选配）空间分辨率：A：100～150um B: 50nm取样深度：2个单分子层（静态） 不受限制（动态）主要特点：? **灵敏度脉冲离子计数检详细
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    2021-01-11 二次离子质谱
  • PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪
    PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪
    ULVAC-PHI PHI nanoTOF II
    TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析**，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。 PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的**飞行时间（TOF详细
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    2021-01-11 二次离子质谱