PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪

产品编码：L13366
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  • 品牌：ULVAC-PHI
  • 型号：PHI nanoTOF II
  • 产地：日本
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TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析**，可检测表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比，从而得知样品表面信息。


  PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的**飞行时间（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中**的角度和能量接收范围，它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器，实现了**空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很**的成像能力，可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。