产品介绍： Xper WLI 是**款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉**为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。优势：价格优势：市场上**性详细

非接触式光学膜厚仪AT-5000本设备操作简单，放置样品即可测量的。**步到位。缩短检查工程，无标准曲线，精度**，分辨率**，轻松测量样品的**厚度。光学方式为大冢电子**，不仅外形小巧，无论透明?粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的**精度测量。特长非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品反复性?再现性**无标准曲线也可知道**厚度测量径很小，详细

显微分光膜厚仪OPTM SERIESOPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量**反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度**。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。产品特点：·非接触非破坏式测量·**速拍摄自动对详细

**特点光学方法，非接触、无损测量，安全无辐射。快速膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )极**的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米可同时分析计算两层膜厚可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析主要用于**主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。详细

**参数.型号 TF200-VIS TF200-EXR TF200-DUV TF200-XNIR波长范围 380-1050nm 380-1700nm 190-1100nm 900-1700nm 厚度范围 50nm-40um 50nm-300um 1um-30mm 10um-3mm准确度1 2nm 2nm 1nm 10nm精度 0.2nm 0.2nm 0.2nm 3nm入射角 90° 90° 90° 90°样品材料 透明或半透明 透明或半透明 透明或半透明 透明或半透明测量模式 反射/透射 反射/透射 反射/透射 反射/透射光斑尺寸2 2mm详细

白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在**个头上组合了4种成像模式。能够在同**测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项**彼此互补。该项整合**不仅有利详细