直接分析**纯度固体材料的理想工具

GD-MS 辉光放电质谱仪是直接分析金属、半导体和陶瓷粉（例如 Al2O3 或 SiC）的理想工具。拥有出色的半定量功能，深度分析的应用所涉及的厚度从纳米到 100µm 不等。使用超灵敏且准确的 Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD-MS 确保您的**纯度材料符合规格。

特色辉光放电质谱仪

ELEMENT GD PLUS GD 质谱仪

了解如何借助 ELEMENT GD PLUS GD-MS 为固体中****纯度材料的直接分析定义新的标准。GD-MS 以**少的校准和样品制备实现**样品通量和超低检出限，使得整个金属、陶瓷粉末和深度分析的应用成为 GD-MS 的主要应用**域。 非导体粉末可采用二次电极进行分析，并具备相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

了解辉光放电**的优势

**概述

辉光放电离子源性能

微秒级脉冲、**流速、大功率

相较静态 GD，该独特**具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰，稳定性**、准确度极**并能缩短分析时间，在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%（无需校准）。

双聚焦质谱仪

**离子传输率结合低背景噪声， 铸就了无可比拟的信噪比和低**亚 ppb 级的检出限。**质量分辨率实现**选择性和准确度。

十二数量级的自动检测系统

>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在**次扫描中同时测定基体和超痕量元素。

**效易用的先进软件包

所有参数均由计算机控制，可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。