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半导体检测
LED数码管LTP-587HR
LTP-587HR
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239
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2021-02-01
半导体检测
LED数码管BA56-11GWA
BA56-11GWA
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223
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2021-02-01
半导体检测
LED发光二极管FC-A2012BK-470H2
FC-A2012BK-470H2
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251
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2021-02-01
半导体检测
LED发光二极管19-217/R6C-P1Q2/3T
19-217/R6C-P1Q2/3T
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306
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2021-02-01
半导体检测
LED发光二极管MV5439A
MV5439A
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258
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2021-02-01
半导体检测
APTL3216SECK LED发光二极管
APTL3216SECK
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237
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2021-02-01
半导体检测
11M-B860C整流二极管
11M-B860C
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231
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2021-02-01
半导体检测
11M-1N5231B整流二极管
11M-1N5231B
商品名称 1N5231B 类别 二极管 - 齐纳 - 单 电压 - 齐纳(标称值)(Vz) 5.1V 容差 -5%~5% 功率 - **值 0.5W 阻抗(**值)(Zzt) 17Ω 不同 Vr 时的电流 - 反向漏电流 0.005mA@2V 封装/外壳 DO-204AH,DO-35轴向
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235
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2021-02-01
半导体检测
SS14G 11M-SS14G整流二极管
11M-SS14G
商品名称 SS14G 类别 二极管 - 整流器 - 单 反向电压Vr 40V 整流电流 1000mA 封装/外壳 DO-214AC,SMA
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234
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2021-02-01
半导体检测
IST 8900系列半导体元件自动测试系统
IST 8900
IST 8900系列半导体元件自动测试系统,可以模拟元件在真正工作状态之下的电流及电压。并测量重要参数。IST 8920在大功率元件的导通参数上的测试 (Vce (sat),Vds(on),Rds(on),Vsd,Vf,Vtm等) 上提供强制的恒流源可达 400A,800A,1600A,2400A,3200A,及 4800A,可依客户的需求来选定。 在元件关闭状态下的各项参数如崩溃电压及漏电流的**电压可达 2.5KV,5KV,7.5KV,及10KV。
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353
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2020-12-29
半导体检测
IGBT全自动动静态测试线IGBT fully auto test line
Lemsys S.A. IGBT fully auto test line
LEMSYS自动测试线集成TRd/TRs动静态测试机PRO AC/DC动静态测试机加热冷却平台自动小推车或传送带进出料激光打标自动分类等各项功能实现**体化全自动的IGBT模块的自动测试
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222
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2020-12-29
半导体检测
汽车级IGBT模块低电感动态测试系统TRd 2015
Lemsys S.A. TRd 2015
TRd 2015系列是**款专门针对汽车级IGBT模块的低电感动态特性测试系统,提供30nH以内系统寄生电感,2000A/1500V动态输出能力,5500A短路电流, 200度**温平台,适用于HPD,HP1,HP2,double side cooling等封装形式的汽车级模块。独立的动态或静态测试,或动静态**体测试系统整体寄生电感低于30nH电流输出能力10A到2000A(短路的5500A)电压输出能力从50V到1500V雪崩和短路测试可用。IGBT测试完全
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303
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2020-12-29
半导体检测
全自动硅片分选系统UltraMap C200L
MicroSense, LLC UltraMap C200L
可减少200mm晶圆测量时间 - 行业**的1.25x**速吞吐量 - E ++等效模式下可处理每小时56片晶圆,具有全晶圆mapping和2mm边缘排阻E模拟模式每小时处理90+片晶圆,3mm边缘排除纳米级分辨率,双探头MicroSense电容测量系统,可根据SEMI标准实现**灵敏度和**重复性测量每200mm晶圆可测量超过200,000个数据点机器全自动自动校准 - 每班次可测量更多晶圆专为可靠性和长期支持性而设计 - UltraM
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386
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2020-12-29
半导体检测
手持式面电阻测试仪DUORES
Napson Corp. DUORES
可替换手持式探头支持两种测试方式(1)非接触式探头(涡电流测试法)(2)接触式探头(四探针测试法)探头触碰到样品时就会自动开始测量可以长达24小时的测量时间**多显示100组测量数据**多储存50,000组测试数据可通过USB-MINI将测量数据导出测量数据显示4位数的浮动小数点测试结果单位:Ω/sq,s/sq,n/m
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335
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2020-12-29
半导体检测
半自动四探针面电阻测试仪RG-200PV
Napson Corp. RG-200PV
RG-200PV是太阳能电池片半自动四探针方阻测试仪。专门为太阳能电池片设计方形平台,具备**速测试样品的性能。**测试速度及稳定性的四探针方阻测试仪具备自我测试功能适合测量太阳能电池硅片扩散层X-Y轴可编程多点测试,位移解析度0.1um,拥有Mapping功能,可提供2D/3D测量数据图谱
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1099
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2020-12-29
半导体检测
半导体专用傅立叶变换红外光谱仪QS1200
Nanometrics Inc. QS1200
Nanometrics推出QS1200台式系统,用于半导体材料内部含量检测,同质外延厚度测量和其他应用。QS1200设计用于先进的半导体工厂,在硅生长和器件制造**域进行材料表征。如需了解详情请联系我司销售人员
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827
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2020-12-29
半导体检测
全自动电化学CV测试系统ECVPro
Nanometrics Inc. ECVPro
美**Nanometrics前身是英**Accent公司,**早名为Bio-Rad公司.在此行业已经有30多年的经验.在**与德仪公司合作,组成10余人的售后服务团队,其中6人次曾经到Nanometrics工厂受训,专业**能力较强,在台湾和大陆地区具有20年的售后,维修等服务.并建有常用备品备件库.可以快速更换可能的故障部品.可在**大陆进行设备维修服务而无需送出**外.减少客户的麻烦,避免额外费用支出.ECVpro使
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335
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2020-12-29
半导体检测
全自动膜厚测试仪NanoSpec II
Nanometrics Inc. NanoSpec II
NanoSpec II扩展了业界公认的NanoSpec系列的范围和性能,引入了**种新型设计,具有自动化样品对准,快速自动对焦和测量重复性优于1Å。 NanoSpec II结合Nanometrics功能强大的重新设计的光谱反射率分析软件NanoDiffract®,自动图案对准的图像处理和各种光学配置选项,使NanoSpec II实现了同类中强大的薄膜测试系统的自动化。
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1126
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2020-12-29
半导体检测
Keithley吉时利4200A-SCS半导体参数分析仪
Keithley吉时利 4200A-SCS
直流电流-电压(I-V) 范围10 aA - 1A0.2 µV - 210 V电容-电压(C-V) 范围1 kHz - 10 MHz± 30V 直流偏置脉冲 I-V范围±40 V (80 V p-p),±800 mA200 MSa/s,5 ns 采样率准确的 C-V 表征使用吉时利**的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量**位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业**的 CVU 架构中,4215-CVU 可在 1 kHz ** 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。特点同类产品中**款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV
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271
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2020-12-29
半导体检测
奥林巴斯GX51
GX51
OLYMPUS倒置金相显微镜GX51,常用来观察金属,**分子或半导体材料,可以实现明视野、暗视野、微分干涉、简易偏光观察。配备**精度物镜,放大倍数50×~1000×,且超宽视野数达22,观察舒适,图像质量**。奥林巴斯GX51是标准型倒置金相显微镜。它采用**的UIS2无限远光学系统,视野周边明亮、清晰提供明场、暗场、偏光、微分干涉观察,具有很**的性价比。选件丰富,照明
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392
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2020-11-26
半导体检测
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