米质分析仪/稻米品质分析仪 SC-E型

产品编码:L5635
  • 品牌:万深
  • 型号: SC-E型
产品保修:【整机一年】(耗材除外)
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万深SC-E型大米外观品质检测分析仪(稻米品质分析仪或米质判定仪)

1、用途:用于各种类大米(*米、糙米、糯米等)各项外观品质指标的*准自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。

2、系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。

3、主要性能指标:

★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cm,*小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。

★可自动**次性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整*米数量、整*米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米*度、裂纹率,以及糙米胚芽率。

自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整*米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与**GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应,检测各项指标的重量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出*Excel表,可输出分析标记图,以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。

★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。

★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm(*厚15 mm),自动测量*度≥99%,交互修正后准确率达****。