用于工业CT断层扫描系统的CT5KN型DEBEN拉伸台

Deben公司可以定制**系列用于微米/纳米级的断层扫描系统特别设计的拉伸台。与NIKON, GE 和 Xradia等出品的X射线实时成像检测系统（工业CT）**配套，可为您的扫描断层应用提供**套完整的拉伸测试等加载方案。

使用带有断层扫描功能的拉伸测试可以为材料和复合材料提供在不同的装载条件下材料性质变化的清晰的目视判读。这种新测试台的设计允许它可以与断层扫描系统配套使用，提供**达5KN的拉伸力和压力，和低**25mN的拉伸力和压力。系统通过全面的微测试拉伸台控制软件控制，这套软件具备很大范围的控制功能而且可以显示负载与拉伸量之间的关系。

其他版本（适用于CT断层扫描应用）

500N版本

5KN下可选择的Peltier半导体制冷和加热组件，温度范围从-20°C到+ 160°

5KN下可选择的加热组件（室内温度**达+250°C）

10KN, 25KN(框架式)版本（只可用于自定义版本）

半导体制冷和加热组件，温度范围仅仅从-20°C到+ 50°（可选择**达+160°C）

**规格

模块化的拉伸和压缩测试系统可以被安装在X射线断层摄影系统内

装有玻璃碳支撑环的简单的样品交换装置，3mm壁厚（用于加速器等系统时壁厚为6mm）

拉伸和压缩夹具，可以根据客户具体要求定制

**行程10mm（可以通过用户需求设定行程）， （10-20mm 拉伸量），使用压缩夹具可以达到（15-5mm压缩量）

可互换的载荷力传感器：读数精度为满量程的+/-1％，可选择500N, 1KN, 3KN, 5KN

变速箱时位移速度范围为0.1mm/min 到1mm/min（可选择较慢的速度）

Options：3 点和4 点弯曲夹具，加热和冷却组件，加热组件，慢速变速箱，额外的加载传感器