AL-CT1010该设备主要用于产品的三维细观结构扫描，在不破坏样品结构的情况下完成文物品内部结构的扫描，并对样品进行综合描述分析，为文物的科研和应用提供精确的二维/三维结构数据。

    该系统采用**品质恒压 X射线源、**分辨率非晶硅面阵列探测器、**精度精密扫描平台构建3D -CT扫描成像系统。该系统通过投影AL-CT1010该设备主要用于产品的三维细观结构扫描，在不破坏样品结构的情况下完成文物品内部结构的扫描，并对样品进行综合描述分析，为文物的科研和应用提供精确的二维/三维结构数据。

    本系统采用**品质恒压 X射线源、**分辨率非晶硅面阵列探测器、**精度精密扫描平台构建3D -CT扫描成像系统。该系统通过投影比例实现对被扫描样品的**分辨率DR(Digital Radiography)成像，利用专用三维快速重建以及可视化建模软件，实现对样品的层析成像以及内部三维信息的可视化，同时借助软件的辅助分析功能，实现对样品的结构三维测量、参数统计等。

AL-CT1010文物保护系统的主要**参数：

2 X射线发生装置：反射式射线管

2 X射线管电压：225kV

2 焦点尺寸：≤3μm

2 **功率：

l  **管头功率350W

l  **靶功率300W

2 细节分辨能力：≤2μm

2 X射线源冷却系统：风冷

2 X射线管寿命：＞8年

2 灯丝：即插即用，可自行简易更换灯丝

2 探测器像素数量：1536×1920pixels

2 探测器像素尺寸：127μ㎡

2 探测器有效面积：250mm（长）×200mm（宽）

2 探测器灰度级分辨率：16Bit

2 极限分辨率：3.94 lp/mm