Nicomp 380 Z3000 Zeta电位分析仪

产品编码:L16612
  • 发货周期:1个工作日,库存不足时5-10个工作日
  • 型号:Nicomp 380 Z3000
  • 产地:美国
产品保修:【整机一年】(耗材除外)
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工作原理:


粒度分布:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)


ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)


检测范围: 


粒径范围 0.3nm-10.0μm


ZETA电位 +/- 500mV


   


Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了**斯( Gaussian)单峰算法和拥有****的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,**个电极可以使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既**检测精度,亦帮用户大大节省检测成本。

1、APD&PMT双检测器;


2、多角度检测(multi angle)模块;


3、可搭配不同功率光源;


4、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;


5、钯电极;


6、精确度**,**接近样品真实值;


7、复合型算法:


 **斯(Gaussion)单峰算法与**的Nicomp多峰算法自由切换


 相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换


8、快速检测,可以追溯历史数据;


9、结果数据以多种形式和格式呈现;


10、符合USP,CP等个多药典要求;


11、无需校准;


12、复合型算法:


(1)**斯(Gaussion)单峰算法与**的Nicomp多峰算法自由切换


10、模块化设计便于维护和升级;


(1)可自动稀释模块**;


(2)搭配多角度检测器;


(3)自动进样系统(选配);