【**参数】

分辨率：1.0nm@30kV STEM 

                1.0nm @15 kV  

                1.8nm @1kV

放大倍数：10-1,000,000×

加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现）

探针电流： 3pA～20nA（100nA选配）  稳定性优于 0.2%/h

低真空范围： 2-133Pa （Sigma 300VP可用）

样品室： 365 mm（φ），275mm（h）

样品台：5轴优中心全自动   

                 X=125mm

                 Y=125 mm

                 Z=50 mm

                 T=-10º-90º

                 R=360º 连续

系统控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制

存储分辨率：32k x 24k pixels

产品应用   

       扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等**域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分 析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶 粒取向测量。